计量、测试和测量

Watlow 采用先进的计量工具和最先进的测量方法，对我们的产品进行特性鉴定和验证。这些工具包括 CMM、ICP-MS、X 射线、干涉仪、声成像、TGA、流变仪、红外热成像、氦泄漏检测、仪器化热电偶晶片及真空和射频 (RF) 等离子体腔室等设备。Watlow 拥有广泛的可靠性工程能力，并符合 SEMI、ASTM、NIST 和 UL等众多行业标准®。 我们执行加速寿命测试并生成可靠性预测，进行故障分析以确定根本原因，并在产品和过程开发项目中部署风险缓解工具。

有关详细信息，请联系您的 Watlow 半导体代表。