Metrología, pruebas y medición

Watlow utiliza herramientas de metrología avanzadas y métodos de medición de vanguardia para caracterizar y validar nuestros productos. Estas herramientas incluyen equipamiento como CMM, ICP-MS, rayos X, interferómetro, creación de imágenes acústicas, TGA, reómetro, termografía por infrarrojos, detección de fugas de helio, obleas T/C instrumentalizadas y cámaras de plasma RF y de vacío. Watlow cuenta con amplias capacidades de ingeniería de confiabilidad y puede cumplir con numerosos estándares de la industria como SEMI, ASTM, NIST y UL®.  Realizamos pruebas de vida útil acelerada y generamos predicciones de fiabilidad, realizamos análisis de fallos para determinar la causa raíz e implementamos herramientas de mitigación de riesgos dentro de los programas de desarrollo de productos y procesos.

Para obtener más información, consulte a su representante de semiconductores de Watlow.